A.提出假设:H0:μ≤225;H1:μ>225
B.提出假设:H0:μ≥225;H1:μ<225
C.检验统计量及其概率分布为
D.取α=0.05,经计算有:T<t0.05(15)
E.接受H0,即认为元件的平均重量不大于225g
[单选题]为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况,假定该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史记录得知该分布的参数为:平均使用寿命μ0为100小时,标准差口为10小时。现在随机抽取100个该类型的电子元件,测得平均寿命为102小时,给定显著性水平α=0.05,为了判断该电子元件的使用寿命是否有明显的提高,下列说法正确的有( )。A.提出假设H0:μ≤100;H1:μ>100B.提出假设H0:μ≥100;H1:μ<100C.检验统计量及所服从的概率分布为D.如果Z>Zα,则称与μ0的差异是显著的,
[多选题] 为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况,假定该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史记录得知该分布的参数为:平均使用寿命μ0为100小时,标准差σ为10小时。现在随机抽取100个该类型的电子元件,测得平均寿命为102小时,给定显著性水平α=0.05,为了判断该电子元件的使用寿命是否有明显的提高,下列说法正确的有()。A . ['提出假设H0:μ≤100;H1:μ>100B . 提出假设H0:μ≥100;H1:μ<100C . 检验统计量及所服从的
[单选题]一种电子元件的正常寿命服从λ=0.1的指数分布,则这个电子元件可用时间在100小时之内的概率为( )。A.99.05%B.99.85%C.99.95%D.99.99%
[单选题]一种电子元件的正常寿命服从λ=0.1的指数分布,则这个电子元件可用时间在100小时之内的概率为( )。A.99.05%B.99.85%C.99.95
[单选题]某元件的质量特性X服从正态分布,即X~N(μ,σ2)USL与LSL为它的上下规范限,不合格品率P=PL+PU,其中( )。A.PL=φ[(LSL—μ)/σ]B.PL=1-φ[(LSL—μ)/σ]C.JPu=φ[(USL—μ)/σ]D.Pu=1-φ[(USL-μ)/σ]
[问答题]某种电子元件的使用寿命X服从指数分布,如果它的年均寿命为100小时,现在某一线路由三个这种元件并联而成,求:(1)X的分布函数;(2)P{100
[单选题]某电子元件厂在2009年9月份大量生产某种型号的电子元件,现采用随机抽样调查方式,进行质量检测,检测结果如表5-3所示。根据上述资料请回答:样本标准差的计算公式和数值分别为( )。
[多选题]为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况,假定提供该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史情况记录得知该分布的参数为:平均使用寿命μ0为100
[多选题]为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况,假定该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史记录得知该分布的参数为:平均使用寿命μ0为100小时,标
[多选题]为了考察某种类型的电子元件的使用寿命情况,假定该电子元件使用寿命的分布是正态分布。而且根据历史记录得知该分布的参数为:平均使用寿命μ0为100小时,标