A.高密度、多阵元高频探头
B.多焦点聚焦探头
C.电子环阵聚焦探头
D.三维空间电子聚焦技术
E.以上技术均不正确
[单选题]消除切片(断层)厚度伪像应选择的技术是A.高密度、多阵元高频探头B.多焦点聚焦探头C.电子环阵聚焦探头D.三维空间电子聚焦技术E.以上技术均不正确
[单选题]消除切片(断层)厚度伪像应选择的技术是A.高密度、多阵元高频探头B.多焦点聚焦探头C.电子环阵聚焦探头D.三维空间电子聚焦技术E.以上技术均不正确
[单选题]消除切片(断层)厚度伪像应选择以下哪项技术()。A . 高密度、多阵元高频探头B . 多焦点聚焦探头技术C . 环阵聚焦探头D . 三维空间聚焦技术E . 以上技术均不正确
[单选题]消除切片(断层)厚度伪像应选择以下哪项技术?( )A.高密度、多阵元高频探头B.多焦点聚焦探头技术C.环阵聚焦探头D.三维空间聚焦技术E.以上技术均
[单选题]消除切片(断层)厚度伪像应选择以下哪项技术?( )A.高密度、多阵元高频探头B.多焦点聚焦探头技术C.环阵聚焦探头D.三维空间聚焦技术E.以上技术均
[单选题]消除切片(断层)厚度伪像应选择以下哪项技术()A.高密度、多阵元高频探头B.多焦点聚焦探头技术C.环阵聚焦探头D.三维空间聚焦技术E.以上技术均不正确
[单选题]哪一项可消除断层厚度伪像(部分容积效应):()。A.高频超声探头。B.超宽频或变频探头C.相控阵探头D.环阵式探头E.经上均不可能
[单选题]由多振子电子探头超声束形成的伪像称为A.混响效应B.切片厚度伪像C.旁瓣效应D.声影E.后壁增强效应
[单选题]切片(断层)厚度伪像产生的原因是A.超声波的回声失落B.组织衰减系数差别过大C.近程图像分辨力降低D.超声断层扫描时断层较厚引起E.超声断层扫描时断层较薄引起
[单选题]切片(断层)厚度伪像产生的原因是( )。A.超声波的回声失落B.组织衰减系数差别过大C.近程图像分辨力降低D.超声断层扫描时断层较厚引起E.超声断层