CSK-IA试块将IIW试块的φ50孔改为φ40、φ44和φ50台阶孔，其目的是（）

[单选题]CSK-1A试块φ40、φ44、φ50、台阶孔，主要用来测试斜探头的（）。A .入射点B .折射角C .分辨率D .K值

[问答题] 试块的用途有哪些？CSK－IA试块可测定仪器和探头的哪些性能？

[单选题]CSK—1A试块φ1.5横孔用来测量斜探头K（）的探头。A .＞1.5B .＞2C .＞2.5D .＞3

[单选题]CSK-1A试块属于（）。A .标准试块B .对比试块C .实作试块D .参考试块

[单选题]CSK-ⅢA试块的反射体孔径是（）。A .φ1×6B .φ1.5×6C .φ2×40D .φ3×40

[单选题]CSK-ⅡA试块上的Φ1×6横孔，在超声远场，其反射波高随声程的变化规律与（）相同A . 长横孔B . 平底孔C . 球孔D . 以上B和C

[问答题] 如何在IIW试块上测试探头性能的“双峰”？

[单选题]CSK-1A试块有机玻璃可测定（）。A .直探头盲区B .直探头穿透能力C .直探头盲区和穿透能力D .上述都不能测

[判断题] CSK-1A试块φ50有机玻璃圆孔可用于测试斜探头的折射角和分辨率。A . 正确B . 错误

[单选题]CSK—ⅢA试块上有一个圆弧为（）的半圆槽。A .R3B .R5C .R10D .R15