[单选题]

单晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为()。

A . 近场干扰

B . 材质衰减

C . 盲区

D . 选择范围

参考答案与解析:

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直探头接触法探伤时,()要涂布耦合剂。

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