A .电噪声
B .TGC(STC)设置不当
C .探头频率
D .入射角过小
E .存在两个或多个强反射体
[单选题]混响伪像是下列哪项因素造成的()。A . 电噪声B . 仪器时间增益补偿(TGC.设置不当C . 存在两个或多个强反射体D . 入射角过小
[单选题]混响伪像是下列哪项因素造成的:A.电噪声B.仪器时间增益补偿(TGC)设置不当C.存在两个或多个强反射体D.入射角过小
[单选题]混响伪像是下列哪项因素造成的:A.电噪声B.仪器时间增益补偿(TGC)设置不当C.存在两个或多个强反射体D.入射角过小
[单选题]造成混响伪像的主要因素是()A . 电噪声B . FGC设置不当C . 入射角过小D . 存在两个或多个强反射界E . 声束剖面过大
[单选题]造成混响伪像的主要因素是()。A . 电噪声B . FGC设置不当C . 入射角过小D . 存在两个或多个强反射界E . 声束剖面过大
[单选题]造成混响伪像的主要因素是A.电噪声B.FGC设置不当C.入射角过小D.存在两个或多个强反射界E.声束剖面过大
[单选题]造成混响伪像的主要因素是A.电噪声B.FGC设置不当C.入射角过小D.存在两个或多个强反射界E.声束剖面过大
[单选题]造成混响伪像的主要因素是A.电噪声B.FGC设置不当C.入射角过小D.存在两个或多个强反射界E.声束剖面过大
[单选题]部分容积效应伪像是由于下列哪项原因产生A.反射B.聚焦C.声速D.衰减E.断层厚度
[单选题]部分容积效应伪像是由于下列哪项原因产生A.反射B.聚焦C.声速D.衰减E.断层厚度