晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面进入被探材料的检验方法叫做（）。

[单选题]晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()：A.垂直法B.斜射法C.表面波法

[单选题]晶片与探测面平行，使超声波垂直于探测面而进入被检材料的检验方法称为()：A.垂直法B.斜射法C.表面波法

[单选题]探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。A .斜射法B .水浸法C .接触法D .穿透法

[判断题] 直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于探测与探测面平行的缺陷。A . 正确B . 错误

[问答题] 超声波探伤时，怎样选择工件探测面？

[填空题] 直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。

[单选题]直探头只能发射和接收纵波，波束轴线垂直于探测面，主要用于发现与探测面（）的缺陷。A .平行B .垂直C .倾斜D .呈90°

[单选题]使用与探测面相垂直的超声波束进行探伤的方法，称为（）。A .垂直法B .共振法C .穿透法D .斜射法

[单选题]检验薄板时，可使超声波束直接垂直于表面，而观察（）。A .界面反射振幅B .多次反射波形C .所有的界面反射D .界面折射

[单选题]与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）A . 单斜探头法B . 单直探头法C . 双斜探头前后串列法D . 分割式双直探头法