使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的扫查密度。

[填空题] 使用K型扫查阵列式探头增加晶片对数主要是为了提高对焊缝的（）。

[单选题]使用K型扫查阵列式探头探测焊缝，增加发收晶片数量主要是为了提高（）。A .探伤灵敏度B .扫查密度C .定位精度D .定量精度

[单选题]钢轨焊缝用的扫查装置，当使用阵列式组合探头对钢轨焊缝进行分段扫查时，扫查间隔应不大于（）。A . 15mmB . 20mmC . 25mmD . 30mm

[判断题] 焊缝探伤所用的阵列探头分段扫查间隔应≤15mm。A . 正确B . 错误

[问答题] 使用单探头对焊缝探伤时如何进行扫查？

[问答题] 绘出焊缝串列探头扫查图。

[单选题]焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷B.与探测面倾斜的缺陷C.垂直于探测面的缺陷D.不能用斜探头检测的缺陷

[单选题]焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷B.与探测面倾斜的缺陷C.垂直于探测面的缺陷D.不能用斜探头检测的缺陷

[问答题] TB/T2658.21—2007规定，对钢轨焊缝轨底部位用双探头K型扫查时，灵敏度如何校准？

[单选题]探头晶片尺寸大，辐射的超声波能量（），探头未扩散区扫查范围大，远距离扫查范围相对变小，发现远距离缺陷能力增强。A .增加B .减小C .不变