方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()：

[单选题]方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大，该缺陷的取向可能是()：A.平行且靠近探测面B.与声束方向平

[单选题]方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。A . 平行且靠近探测面B . 与声速方向平行C . 与探测面成较大角度D . 平行且靠近底面

[单选题]锻件探伤时，（）会在荧光屏上产生非缺陷回波。A . 边缘效应B . 工件形状及外形轮廓C . 迟到波D . 以上全部

[单选题]锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？()：A.边缘效应B.工件形状及外形轮廓C.迟到波D.以上全部

[单选题]锻件探伤时，那些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波？()：A.边缘效应B.工件形状及外形轮廓C.迟到波D.以上全部

[单选题]锻件探伤时，哪些因素会在荧光屏上产生非缺陷回波（）A . 边缘效应B . 工件形状及外形轮廓C . 缺陷形状和取向D . 以上全部

[单选题]锻件探伤中，示波屏上单独出现的缺陷回波称为单个缺陷回波，一般单个缺陷间距大于（）。A .30mm B .35mm C .40mm D . D.50mm

[单选题]锻件探伤中，荧光屏上出现“林状波”时，是由于（）A . 工件中有大面积倾斜缺陷B . 工件材料晶粒粗大C . 工件中有密集缺陷D . 以上全部

[单选题]表面波探伤时，仪器荧光屏屏上出现缺陷波的水平刻度值通常代表（）A . 缺陷深度B . 缺陷至探头前沿距离C . 缺陷声程D . 以上都可以

[单选题]锻件探伤中，荧光屏上出现”林状(丛状)波“时，是由于()A.工件中有小而密集缺陷B.工件材料中有局部晶粒粗大区域C.工件中有疏松缺陷D.以上都有可能