[单选题]光子能量的数学计算式为（）。A . E=hλ/vB . E=λ/hvC . E=hvD . E=λhv
[单选题]射线检测不适用的对象为（）。A . 焊缝B . 铸件C . 封闭物的内部结构D . 大型锻件
[单选题]发生电子对效应的光子能量范围为（）。A .0.025～0.1MeVB .30～50eVC .≥1.022MeVD .0.1～1.0MeV
[单选题]光电效应随物质原子序数的增大而增强，随光子能量的增大而（）。A . 无变化B . 增强C . 减弱D . 增大
[单选题]放射性同位素衰变时，同位素的原子核以（）方式蜕变。A . 粒子发射B . K俘获C . 淹灭辐射D . A和B
[单选题]放射性物质原子数衰变到原来（）所需的时间称为半衰期。A . 1/2B . 1/4C . 1/3D . 1/5
[单选题]电磁波波长λ的数字计算公式为（）。A . λ=chB . λ=c/vC . λ=hvD . λ=cv
[单选题]锻件接触法探伤中，如果探伤仪的“重复频率”调得过高，可能发生（）。A . 荧光屏“噪声”信号过高B . 时基线倾斜C . 始脉冲消失D . 容易出现“幻像波”
[单选题]假定某放射性同位素的衰变常数λ=0.231/年，则其半衰期为（）。A . 5.3年B . 33年C . 3年D . 75天
[单选题]射线检测方法分为（）。A . Ｘ射线检测B . γ射线检测C . 中子射线检测D . 以上都是
[单选题]对连续X射线的强度与靶材的原子序数关系的叙述正确的是（）。A . 强度与原子序数成正比B . 强度与原子序数不成正比C . 强度与原子序数成反比D . 强度与原子序数的平方成正比
[单选题]放射线物质原子衰变一半所需的时间叫做（）。A . 衰变常数B . 半衰期C . 曝光量D . 衰变时间
[单选题]锻件探伤中，引起底波降低或消失的原因有（）。A . 探头接触不良B . 遇到了材质衰减大的部位C . 工件底面不平整D . 以上都对
[单选题]方形锻件垂直法探伤时，荧光屏上出现一游动缺陷回波，其波幅较低但底波降低很大。该缺陷取向可能是（）。A . 平行且靠近探测面B . 与声速方向平行C . 与探测面成较大角度D . 平行且靠近底面
[单选题]射线探伤中用得最多的方法是（）。A . 焊缝B . 铸件C . 封闭物的内部结构D . 以上都对
[单选题]连续谱X射线透照工件时，随着透照厚度的增加，总的强度递减，而平均波长值（）。A . 变小B . 变大C . 不变D . 以上都不对
[单选题]射线探伤的基本原理是利用射线穿透物质时（）产生的物理作用。A .射线能量的衰减B .射线强度的衰减C .射线性质的转换D .以上都是
[单选题]在射线探伤中应用最多的射线是（）。A . X、α射线B . X、γ射线C . γ、β射线D . X、β射线
[单选题]原子核外电子能级最高的是（）。A . 外壳层B . 中间壳层C . 内壳层D . 以上均不是
[单选题]下列不属于射线检测方法的是（）。A . Ｘ射线B . γ射线C . β射线D . 中子射线
[单选题]为了有助于分辨力的提高，则宜采用（）。A . 能量扩散的探头B . 高频率C . 低频率D . 以上都不对
[单选题]核电核数表示原子核带有的电荷，它等于原子核的（）。A . 质子数B . 电子数C . 中子数D . 原子序数
[单选题]射线束有窄束和宽束之分，它们的区别是（）。A . 窄束是散射线和未散射线均到达检测器，而宽束是指只有未散射的射线到达检测器B . 窄束是指只有未散射的射线到达检测器，而宽束是散射线和未散射线均到达检测器C . 窄束和宽束只与源的尺寸有关D . 窄束和宽束均取决于胶片和屏的配合
[单选题]共振式超声波测厚仪是利用超声波的（）原理设计的。A . 透射B . 折射C . 共振D . 波形转换
[单选题]在直探头探伤过程中，引起底波高度明显下降或消失的因素有（）。A .探头接触不良B .遇到材质衰减大的部位C .工件底面不平或工件内部有缺陷D .以上都对
[单选题]在X光管中，阴极到阳极的电子运动速度取决于（）。A . 靶材料的原子序数B . 管电压C . 管电流D . 灯丝电流
[单选题]增益不变时，探伤仪荧光屏上，能分辨最大反射波和最小反射波（）的分贝差值称为动态范围。A . 距离B . 高度C . 频率D . 水平线性
[单选题]关于射线在材料中的衰减，下述（）叙述是正确的。A . 与材料中的散射强度成正比B . 与射线源的距离平方成正比C . 随材料的厚度，大致以指数规律变化D . 与材料的厚度成正比
[单选题]能量为2MeV的γ射线源，经过3个半衰期后，其γ射线的能量为（）。A . 1MeVB . 0.5MeVC . 0.25MeVD . 2MeV