[填空题] 压力喷罐装置一般包括（）和（）两部分
[单选题]检查发现的一个微弱显示，在第二天再观察时发现该显示已消失，其可能原因是（）A .前一天发现的显示其实不存在B .该微弱显示在已干燥的显像剂中因时间过长过度弥散而消失C .该显示为错误显示D .以上都不对
[单选题]下面哪种试件可能会产生无关显示？（）A .齿轮B .螺栓C .键槽D .以上都会
[填空题] 毛细现象是（）的必然结果
[填空题] 在向被检物表面施加渗透剂的前处理工作中，必须彻底清除妨碍渗透剂渗入缺陷的油脂，涂料，铁锈，氧化皮及污物等附着物，以及残留在缺陷中的（）和（）
[问答题] 写出水洗型渗透探伤法的工艺流程。
[填空题] 选择渗透检验方法时应考虑的因素主要有（）、（）、（）和（）等
[单选题]长时间接触渗透液对某些人的皮肤会产生过敏现象，其原因是（）A .渗透液中含有有毒物质B .渗透液中含有油性液体的刺激作用C .渗透液中含有麻醉性物质D .以上都不对
[单选题]荧光检验用的紫外线波长约为（）A . 320～400nmB . 100～320nmC . 400～600nmD . 都不对
[单选题]下面哪一条不是渗透检测方法的优点（）。A . 可发现各种类型的缺陷B . 原理简单容易理解C . 应用方法比较简单D . 被检零件的形状尺寸没有限制
[单选题]铸件上由于厚薄截面上冷却速率不同而产生的应力不均匀所导致的许多分枝线状迹痕最可能是（）缺陷A .疏松B .冷隔C .热裂D .折叠
[单选题]下列哪种功能是显像剂承担的（）。A .将不连续性中的渗透液吸出 B .遮住非相关的显示 C .干燥零件表面 D . D.提供一个无反差本底
[单选题]表面活性剂能使二种不能混合到一起的液体能混合在一起，其作用是（）A . 洗涤作用B . 乳化作用C . 润湿作用D . 增溶作用
[单选题]被认证为I级的无损检测人员（）按无损检测规程进行无损检测工作A . 在Ⅱ级或Ⅲ级人员的监督下B . 独立C . 在工程师指导下D . 在同伴帮助下
[单选题]渗透液对表面缺陷的渗入速度，受渗透液下列哪种参数的影响最大？（）A . 密度B . 粘度C . 表面张力D . 润湿能力
[单选题]下面哪条不是一种好的渗透液应具有的特点（）。A . 能很快地渗入非常细微的开口中B . 挥发快C . 能保留在比较宽的开口中D . 检验后容易从表面上去除掉
[单选题]下面哪一条不是渗透检测用的显像剂的作用（）。A .将缺陷中渗透液吸出来 B .有助于形成缺陷图象 C .增强渗透液的荧光 D . D.有助于放大缺陷显示
[单选题]锻造折叠的渗透迹痕显示通常是（）A .圆形的或近似圆形的显示B .聚集的显示C .连续的线条D .断续的线条
[单选题]下列渗透液中，哪些渗透液是常用的类型（）A .后乳化型渗透液 B .着色荧光渗透液 C .化学反应型渗透液 D . D.水基渗透液
[单选题]按渗透液所含染料进行分类，常规渗透检测方法可分为：（）A .着色法 B .荧光法 C .荧光着色法 D . D.A+B
[单选题]不宜用常规渗透检测法进行检验的材料是（）。A . 未涂釉的多孔性陶瓷B . 钛合金C . 高合金钢D . 铸铁
[单选题]从冷隔中渗出的渗透剂是下列哪种显示的一个实例？（）A .虚假显示B .不相关显示C .真实显示D .以上都不是
[单选题]以下哪种显示痕迹是无关痕迹（又称非相关痕迹）？（）A . 近表面缺陷引起的显示B . 由零件形状或结构引起的显示C . 棉纤维污染造成的显示D . 操作者手上的渗透液污染
[单选题]固体被润湿的条件是（）A .接触角小于900 B .接触角等于1500 C .接触角大于900 D . D.固体是否被润湿，与接触角的大小无关
[单选题]下面哪条不是渗透检测方法的优点（）。A . 渗透检测方法适合于小试件表面开口缺陷的检验B . 渗透检测方法可检测细小裂纹C . 渗透检测方法是一种比较简单的检验方法D . 在任何温度下都是有效的渗透检测方法
[单选题]在渗透时间内发现渗透液干涸时应如何处理？（）A .如渗透时间未到，可立刻再次施加渗透液B .如渗透时间未到，可施加少许清洗液润湿已干涸的渗透液C .将已干涸的渗透液彻底清除，重新进行渗透D .以上都可以
[单选题]对渗透液进入裂纹、裂缝和小开口缺陷的速度和程度有影响的性能是（）A .密度 B .粘度 C .表面涨力 D . D.接触角
[单选题]用干粉显像剂把渗入缺陷内的渗透液吸附出来的原理是基于（）A . 表面张力B . 对固体表面的浸润性C . 毛细作用D . 上述都是
[单选题]下面哪种渗透液最不易从螺纹、键槽上洗净？（）A .溶剂型B .水洗型C .后乳化型D .上述三种无区别
[单选题]近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）A . 后乳化型渗透法B . 着色渗透法C . 水洗型荧光渗透法D . 以上方法均不能探测近表面下的缺陷