[单选题]一般指向角（），探测灵敏度就越高，可以提高对缺陷的分辨力和准确判断缺陷的位置。A . 越小B . 越大C . 越宽D . 以上都不对
[单选题]一个垂直线性好的仪器在荧光屏上的波幅从100%降至50%时，衰减（）。A . 6dBB . 18dBC . 24dBD . 32dB
[单选题]X光机的额定管电压指的是（）。A . 峰值电压B . 平均值电压C . 有效值电压D . 均方根值电压
[单选题]对射线的衰减，下列（）叙述是正确的。A . 与材料中的散射强度成反比B . 与距离的平方成正比C . 随材料厚度以指数规律变化D . 与材料厚度成正比
[单选题]由粗晶组织引起的散射，在示波屏上会看到（）。A . 工件底面回波B . 始脉冲消失C . 草状回波D . 以上都不对
[单选题]超声波探伤仪的（）与探头性能无关。A .动态范围B .垂直线性C .工作频率D . D.以上都对
[单选题]缺陷距离远时，要采用（）。A . 低频率B . 低电压C . 高频率D . 高电压
[单选题]（）是指将超声连续波加在被检测材料上，根据其共振状态来测定厚度或有无缺陷等材料性质的方法。A . 共振法B . 水浸法C . 渗透法D . 以上都不对
[单选题]灵敏度余量是探头和仪器的综合性能，是指整个探伤系统发现（）的能力。A .最小缺陷B .最大缺陷C .缺陷D .以上都对
[单选题]下列对连续X射线的强度与靶材原子序数的关系的叙述正确的是（）。A . 强度与原子序数成正比B . 强度与原子序数不成正比C . 强度与原子序数成反比D . 强度与原子序数的二次方成正比
[单选题]连续X射线波长与下列（）因素有关。A . 靶的材料B . 管电流C . 管电压D . 曝光时间
[单选题]下面（）参考反射体与入射角声束无关。A . 平底孔B . 大平底C . 横通孔D . “V”型槽
[单选题]仪器垂直线性的好坏直接影响到对（）的判断。A . 缺陷位置B . 缺陷大小C . 频率D . 以上都不对
[单选题]射线的衰减叙述是正确的（）。A .随材料厚度以指数规律变化B .随材料厚度以指数规律变化C .与距离的平方成正比D .与材料厚度成正
[单选题]A型扫描显示从荧光屏时基线上直接可获得的信息是（）。A . 缺陷的性质和大小B . 缺陷的形状和取向C . 缺陷的回波幅度和时间距离D . 超声波的波形
[单选题]γ射线通过被检查物质，强度衰减取决于（）。A . 物体的弹性系数B . 物体的粘滞性C . 物体的传热性D . 物体的原子序数、密度以及厚度
[单选题]要尽量避免在（）探伤定量。A . 声程大于6倍的近场区B . 近场区C . 声程大于3倍的近场区D . 以上都不对
[单选题]连续X射线的总强度可表达为（）。A .I=kizVB .I=kizV2C .I=kiλV2D .I=kiμV2
[单选题]缺陷定量的依据是（）。A .垂直线性B .动态范围C .缺陷的水平距离D .缺陷反射回波幅度
[单选题]康普顿效应作用过程的特征是（）。A . 产生正负电子对B . 光子的全部能量被转移C . 光子能量不发生转移D . 光子能量部分被转移
[单选题]X光机的额定管电压为250kV，则X光管的最高工作电压是（）。A . 250kV的有效值B . 250kV的平均值C . 250kV的均方根值D . 250kV的峰值
[单选题]X、γ射线的共同点是（）。A . 都是电磁波的一种B . 都是由同一种方法产生的C . 速度不同的辐射D . 以上都不对
[单选题]（）是指在斜射探伤中，超声束不经工件底面反射而直接对准缺陷的方法。A . 一次波法B . 二次波法C . 底面回波法D . 以上都不是
[单选题]参考反射体定位的依据是（）在时基线上的位置。A . 零点位移B . 探头杂波C . 始脉冲宽度D . 反射体回波
[单选题]超声试验系统的灵敏度（）。A . 取决于探头、脉冲发生器和放大器B . 随频率的提高而提高C . 随分辨力的提高而提高D . 与换能器的机械阻尼无关系
[单选题]在定影液中能抑制硫代硫酸钠被分解析出硫的化学药品是（）。A . CH3COOHB . H3BO3C . Na22SO4D . Na22SO3
[单选题]吸收剂量适于描述不同类型辐射和不同物质受到的（）。A . 照射B . 磁化C . 电离D . 腐蚀
[单选题]横波入射到平面缺陷时，会产生波型转换现象，这与波的（）有关。A . 声压B . 声强C . 反射角D . 入射角
[单选题]X、γ射线除射线源不同，其本质是（）A . 同类型的辐射B . 声发射C . 速度不同的辐射D . 以上都不对
[单选题]超声波探伤仪在单位时间内所产生的脉冲数目叫做（）。A . 脉冲长度B . 脉冲恢复时间C . 频率D . 脉冲重复频率