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[填空题]

X线头影测量基准平面有（）。

参考答案与解析：

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X线头影测量基准平面有（）、（）、（）。

[填空题] X线头影测量基准平面有（）、（）、（）。

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    • X线头影测量的主要应用有（）

    [多选题] X线头影测量的主要应用有（）A . ['可研究颅面生长发育B . 可对牙、颅面畸形作诊断分析C . 可确定错畸形的矫治设计D . 可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化E . 可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

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    • X线头影测量的主要应用有

    [多选题]X线头影测量的主要应用有A.可研究颅面生长发育B.可对牙、颅面畸形作诊断分析C.可确定错畸形的矫治设计D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态

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    • X线头影测量的主要应用有

    [多选题]X线头影测量的主要应用有A.可研究颅面生长发育B.可对牙、颅面畸形作诊断分析C.可确定错畸形的矫治设计D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态

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    • X线头影测量的主要应用有（）

    [多选题]X线头影测量的主要应用有（）A.可研究颅面生长发育B.C.D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化E.可作为外科正畸诊断和矫治设计依据

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    • X线头影测量标志点，“N”代表( )。

    [单选题]X线头影测量标志点，“N”代表( )。A.眶点B.蝶鞍点C.鼻根点D.前鼻棘E.翼上颌裂点

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    • X线头影测量可做如下分析，除了（）.

    [单选题]X线头影测量可做如下分析，除了（）.A . 颅面部生长发育B . 双侧髁突对称性C . 牙、合、面畸形的机制分析D . 外科正畸的诊断和分析E . 矫治前后牙合、颅面结构变化

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    • X线头影测量可做如下分析，除了

    [单选题]X线头影测量可做如下分析，除了A.颅面部生长发育B.双侧髁突对称性C.牙、（牙合）、面畸形的机制分析D.外科正畸的诊断和分析E.矫治前后牙、（牙合）、

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    • X线头影测量主要用途不包括（　　）。

    [单选题]X线头影测量主要用途不包括（　　）。A.错治疗方案设计B.研究颅面生长发育C.了解患者的骨龄D.牙颌面畸形诊断分析E.评估治疗结果

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    • X线头影测量主要用途不包括（　　）。

    [单选题]X线头影测量主要用途不包括（　　）。A.错治疗方案设计B.研究颅面生长发育C.了解患者的骨龄D.牙颌面畸形诊断分析E.评估治疗结果

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    • X线头影测量基准平面有（）。