X线头影测量的主要应用有
A.可研究颅面生长发育
B.可对牙
、颅面畸形作诊断分析
C.可确定错畸形的矫治设计
D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态结构变化
E.可作为外科正畸诊断和矫治设计依据
参考答案与解析：
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X线头影测量的主要应用有（）
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X线头影测量的主要应用有
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[多选题]X线头影测量的主要应用有A.可研究颅面生长发育B.可对牙、颅面畸形作诊断分析C.可确定错畸形的矫治设计D.可用于研究矫治过程中及矫治后的牙颌、颅面形态
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X线头影测量的主要应用有（）
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X线头影测量主要用途不包括（ ）。
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X线头影测量主要用途不包括（ ）。
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X线头影测量基准平面有（）。
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X线头影测量标志点，“N”代表( )。
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[单选题]X线头影测量标志点，“N”代表( )。A.眶点B.蝶鞍点C.鼻根点D.前鼻棘E.翼上颌裂点
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