用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时，出现的干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。

[单选题]用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时，出现干涉条纹或干涉环，其干涉原理是（）。A . 球面干涉B . 等倾干涉C . 等厚干涉

[单选题]在白光情况下，用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时，受检工作面的平面度一般应不大于（）。A . 0.001mmB . 0.002mmC . 0.003mm

[问答题] 用平晶检定工作面的平面度，是一种光波干涉法测量，那么产生光波干涉的条件是什么？

[单选题]用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔干涉条纹，则其平面度为（）。A . 0.9μmB . 0C . 1.8μm

[单选题]用平面平晶检查平面度时，若出现3条直的，互相平行而等间隔的干涉条纹，则其平面度为（）。A . 0.9μmB . 0C . 1.8μm

[单选题]用平面平晶检定量具表面平面度时，当入射角不变，而厚度各处有变化，干涉带发生于厚度相等的地方，这种现象称为（）。A . 球面干涉B . 等厚干涉C . 等倾干涉

[单选题]用等厚干涉法检定平品平面度时，在整个视场中干涉条纹的条数以调整到如下情况为最宜（）。A . 干涉条纹尽量少B . 2条或4条C . 3条或5条

[单选题]被测平面出现弯曲的干涉条纹时，当切线与三条干涉条纹相交，其平面度偏差为（）。A . 0.29微米B . 0.58微米C . 0.72微米D . 0.87微米

[多选题] 用平晶检测平面度，有时看不见干涉条纹，这可能是由于（）。A . 被测表面不光洁B . 被测表面平面度很差C . 被测表面有毛刺D . 非金属材料表面折光不好

[多选题] 通常鞍形干涉条纹表示平面度为（）条光带。A . 一条B . 两条C . 三条D . 六条