A . 球面干涉
B . 等厚干涉
C . 等倾干涉
[填空题] 用平面平晶检验工件表面平面度时,当入射角不变,而厚度各处有变化,干涉带发生于厚度()的地方,这种现象称为()。
[单选题]用平晶以光波干涉法检定量具工作面的平面度时,出现干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A . 球面干涉B . 等倾干涉C . 等厚干涉
[单选题]在白光情况下,用平晶以技术光波干涉法检定量具工作面的平面度时,受检工作面的平面度一般应不大于()。A . 0.001mmB . 0.002mmC . 0.003mm
[单选题]用平面平晶的技术光波干涉法检定一量具工作面的平面度时,出现的干涉条纹或干涉环,其干涉原理是()。A . 球面干涉B . 等倾干涉C . 等厚干涉
[单选题]在检定平晶平面度时,如果用手角摸平晶进行调整的时间过长,会使平晶的平面度()。A . 变凹B . 变凸C . 不变
[单选题]用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔干涉条纹,则其平面度为()。A . 0.9μmB . 0C . 1.8μm
[单选题]用平面平晶检查平面度时,若出现3条直的,互相平行而等间隔的干涉条纹,则其平面度为()。A . 0.9μmB . 0C . 1.8μm
[单选题]当横波入射到平面缺陷时,会产生()现象,这与横波的入射角有关。A . 灵敏度降低B . 全透射C . 全反射D . 波型转换
[单选题]当横波入射到平面缺陷时,会产生()现象,这与波的入射角有关。A . 声波消失B . 全透射C . 全反射D . 波型转换
[问答题] 用平晶检定工作面的平面度,是一种光波干涉法测量,那么产生光波干涉的条件是什么?