介质的散射衰减与（）、（）和（）有关。因此探伤晶粒较粗大的工件时，常常选用较低的（）。

[填空题] 锻件探伤中，荧光屏上出现“（）”是由于工件材料晶粒粗大。

[单选题]被检工件晶粒粗大，通常会引起：（）A . 草状回波增多B . 信噪比下降C . 底波次数减少D . 以上全部

[单选题]锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起()A.底波降低或消失B.有较高的”噪声“显示C.使声波穿透力降低D.以上全部

[单选题]锻件探伤中，如果材料的晶粒粗大，通常会引起()A.底波降低或消失B.有较高的”噪声“显示C.使声波穿透力降低D.以上全部

[单选题]介质易结晶，有腐蚀性，较粘稠和压力较低的场合应选用（）机械密封A . 内装式B . 外装式C . 双端面D . 单端面

[单选题]介质易结晶、有腐蚀性、较黏稠和压力较低的场合应选用（）机械密封A . 内装式B . 外装式C . 双端面D . 单端面

[填空题] 在磁粉探伤时，缺陷处所产生的漏磁通的大小与通过工件的（）有关，与缺陷的（）和（）有关

[单选题]为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用()进行探伤A.高频率、横波B.较低频率、横波C.高频率、纵波D.较低频率、纵波

[单选题]为减小超声波通过介质时的衰减和避免林状回波，宜采用()进行探伤A.高频率、横波B.较低频率、横波C.高频率、纵波D.较低频率、纵波

[填空题] 晶粒的大小与（）和（）有关。