当工件厚度较大时，选用小K值，以减少声程过大引起的（），便于发现远区缺陷。

[判断题] 当工件厚度较大时，选用小K值，以减少声程过大引起的衰减，便于发现远区缺陷。A . 正确B . 错误

[判断题] 在探测厚度较大的工件时，选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减，便于发现远场区的缺陷。A . 正确B . 错误

[问答题] 当工件厚度较大时，怎样便于发现远区缺陷？

[填空题] 一般工件厚度较小时，选用较大的K值，以便增加（）的声程，避免近场区探伤。

[判断题] 一般工件厚度较小时，选用较大的K值，以便增加一次波的声程，避免近场区探伤。A . 正确B . 错误

[判断题] 在探测厚度较小的工件时，选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程，避免近场区探伤。A . 正确B . 错误

[单选题]当一次透照厚度差较大的工件时，可采用下列哪种方法来调整被检物体厚度差过大部位的对比度？（）A .增加管电压B .在X射线管处用一块滤光板并增加曝光时间C .减少曝光时间D .降低管电流E .a和b都可以

[判断题] 当被透工件厚度差较大时，就会有“边蚀散射”发生。A . 正确B . 错误

[判断题] 选择探头K值时，应考虑缺陷的取向，应尽可能使声束与缺陷垂直A . 正确B . 错误

[单选题]当试件的厚度范围相差太大，引起过大的工件对比度，可使用哪种方法校正？（）A .增加管电压B .使用过滤器并增加曝光时间C .减少照相时间D .a和b均对