当工件厚度较大时，选用小K值，以减少声程过大引起的衰减，便于发现远区缺陷。

[填空题] 当工件厚度较大时，选用小K值，以减少声程过大引起的（），便于发现远区缺陷。

[判断题] 在探测厚度较大的工件时，选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减，便于发现远场区的缺陷。A . 正确B . 错误

[问答题] 当工件厚度较大时，怎样便于发现远区缺陷？

[填空题] 一般工件厚度较小时，选用较大的K值，以便增加（）的声程，避免近场区探伤。

[判断题] 一般工件厚度较小时，选用较大的K值，以便增加一次波的声程，避免近场区探伤。A . 正确B . 错误

[判断题] 在探测厚度较小的工件时，选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程，避免近场区探伤。A . 正确B . 错误

[单选题]在远场同直径横孔声程增大一倍，不计材质衰减，则声压减少（）。A .6dBB .9dBC .3dBD .12dB

[单选题]在远场，同直径长横孔声程增大一倍，若不计材质衰减，则声压减少（）。A .6dBB .9dBC .3dBD .12dB

[单选题]在远场，同直径平底孔声程从100mm增大到300mm，若不计材质衰减，则声压减少（）。A .三倍B .12dBC .24dBD .以上都不对

[单选题]当一次透照厚度差较大的工件时，可采用下列哪种方法来调整被检物体厚度差过大部位的对比度？（）A .增加管电压B .在X射线管处用一块滤光板并增加曝光时间C .减少曝光时间D .降低管电流E .a和b都可以