双晶探头用于探测工件（）缺陷。

[判断题] 双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A . 正确B . 错误

[问答题] 在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？

[单选题]表面波探头用于探测工件（）缺陷。A .近表面B .表面C .内部D .平面形

[判断题] 表面波探头用于探测工件表面缺陷。A . 正确B . 错误

[填空题] 表面波探头用于探测工件（）。

[判断题] 双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。A . 正确B . 错误

[填空题] 直探头主要用于探测（）的缺陷。

[问答题] 斜探头主要用于探测哪些类型的缺陷？

[单选题]用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）A .尽可能靠近侧壁；B .离侧壁10mm；C .离侧壁一个探头直径的距离处；D .离侧壁二个探头直径的距离处。

[判断题] 收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。A . 正确B . 错误