用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）

[判断题] 双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A . 正确B . 错误

[单选题]双晶探头用于探测工件（）缺陷。A .近表面B .表面C .内部D .平面形

[单选题]表面波探头用于探测工件（）缺陷。A .近表面B .表面C .内部D .平面形

[填空题] 直探头主要用于探测（）的缺陷。

[判断题] 表面波探头用于探测工件表面缺陷。A . 正确B . 错误

[填空题] 探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。

[填空题] 表面波探头用于探测工件（）。

[问答题] 在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？

[单选题]用直探头探测焊缝两侧母材的目的是（）A . 探测热影响区裂缝B . 探测可能影响斜探头探测结果的分层C . 提高焊缝两侧母材验收标准，以保证焊缝质量D . 以上都对

[填空题] 直探头只能发射和接受纵波，波束轴线垂直于探测面．主要用于探测与探测面（）的缺陷。