[填空题] 电阻率条纹上没有微缺陷蚀坑,宏观上看不见小白点,腐蚀面为镜面,这是()和电阻率条纹最重要的区别。
[单选题]直拉单晶中氧含量头部和尾部相比()。A . 较高B . 相同C . 较低D . 无法判断
[问答题] 冷热探笔法测试硅单晶的原理是什么?
[问答题] 测定晶体取向的方法?
[单选题]光图定向法结果直观,操作(),误差()。A .简单较大B .复杂较大C .简单较小D .复杂较小
[单选题]()是影响硅器件成品率的一个重要因素,也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。A . 点缺陷B . 线缺陷C . 面缺陷D . 微缺陷
[问答题] 简述离子交换柱的结构?
[名词解释] 金属-半导体功函数差
[填空题] 半导体晶体缺陷可以分为()和微观缺陷,以及点阵应变和表面机械损伤。
[填空题] 晶体中最邻近的两个平行晶面间的距离称为晶面间距,晶面指数最低的晶面总是具有()的晶面间距。
[问答题] x射线性质都有哪些?
[问答题] X射线所必须具备的条件?
[问答题] 简诉连续X射线谱的特征?
[问答题] 晶半导体中的缺陷都有哪些?
[问答题] 位错的面密度是如何计算的?
[填空题] 快速腐蚀时一般不受光照影响,而慢速腐蚀时()影响比较大。