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[单选题]

提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）

A .用TR探头

B .使用窄脉冲宽频带探头

C .提高探头频率，减小晶片尺寸

D .以上都是

参考答案与解析：

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磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。

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