A . 减小几何不清晰度
B . 增加照射场的面积
C . 提高照射场强度的均匀性
D . 以上都是
[单选题]射线探伤时,使用透度计的主要目的是()A .测量缺陷大小B .测量底片黑度C .测量几何不清晰度D .衡量透照底片的影像质量
[单选题]射线探伤时,使用像质计的主要目的是()。A . 测量缺陷的大小B . 测量缺陷的位置C . 测量缺陷的几何不清楚度D . 确定底片的彩像质量
[单选题]用兆伏级射线设备时,增大焦距的目的主要是为了()A .增大照射场尺寸,从而获得一定的有效透照长度B .减小几何不清晰度,使Ug=Ui;C .使波长较长的入射线在空气中衰减掉D .以上都是
[单选题]X射线照相的主要目的是()。A . 检验晶粒度B . 检验表面质量C . 检验内部质量D . 以上全是
[单选题]高能X射线探伤设备与一般X射线探伤设备相比,其优点是()。A .能量转换效率高 B .穿透力强 C .散射线少 D . D.以上都是
[单选题]超声波探伤时施加耦合剂的主要目的是:()A .润滑接触面尽量减少探头磨损B .排除探头与探测面间的空气C .晶片与探测面直接接触时就不会振动D .使探头可靠地接地
[单选题]曲轴探伤检验,主要目的是探测曲轴的()。A . 变形B . 表面碰伤C . 磨损D . 裂纹
[单选题]探伤面上涂敷耦合剂的主要目的是()A.防止探头磨损B.消除探头与探测面之间的空气C.有利于探头滑动D.防止工件生锈
[单选题]探伤面上涂敷耦合剂的主要目的是()A.防止探头磨损B.消除探头与探测面之间的空气C.有利于探头滑动D.防止工件生锈