
[填空题] ()是半导体单晶重要电学参数之一,它反映了补偿后的杂质浓度,与半导体中的载流子浓度有直接关系。
[填空题] 目前国内外导电类型测量有两种(),整流效应法。
[填空题] 半导体晶体缺陷可以分为()和微观缺陷,以及点阵应变和表面机械损伤。
[问答题] 简述离子交换柱的结构?
[问答题] x射线性质都有哪些?
[单选题]()是影响硅器件成品率的一个重要因素,也是影响器件性能的稳定性和可靠性的重要因素。A . 点缺陷B . 线缺陷C . 面缺陷D . 微缺陷
[问答题] 例举离子注入设备的5个主要子系统。
[填空题] 晶体中最邻近的两个平行晶面间的距离称为晶面间距,晶面指数最低的晶面总是具有()的晶面间距。
[问答题] 简诉连续X射线谱的特征?
[问答题] 晶半导体中的缺陷都有哪些?
[填空题] 快速腐蚀时一般不受光照影响,而慢速腐蚀时()影响比较大。
[问答题] 位错的面密度是如何计算的?
[问答题] X射线所必须具备的条件?
[名词解释] 金属-半导体功函数差
[填空题] 测出的就是点接触外表面的导电类型。要求(),无氧化层,清洁无油污。