A . 侧面反射波带来干涉
B . 探头太大,无法移至边缘
C . 频率太高
D . 以上都不是
[单选题]用纵波直探头探伤,找到缺陷最大回波後,缺陷的中心位置()A.在任何情况下都位于探头中心正下方B.位于探头中心左下方C.位于探头中心右下方D.未必位于探
[单选题]用纵波直探头探伤,找到缺陷最大回波後,缺陷的中心位置()A.在任何情况下都位于探头中心正下方B.位于探头中心左下方C.位于探头中心右下方D.未必位于探
[单选题]直探头接触法探伤时,底面回波降低或消失的原因是()。A .耦合不良B .存在与声束不垂直的缺陷C .存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D .以上都可能
[单选题]单斜探头探伤时,在近区有幅度波动较快,探头移动时水平位置不变的回波,它们可能是()A . 来自工作表面的杂波B . 来自探头的噪声C . 工作上近表面缺陷的回波D . 耦合剂噪声
[单选题]用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时,探头最不利的探测位置是()A .尽可能靠近侧壁;B .离侧壁10mm;C .离侧壁一个探头直径的距离处;D .离侧壁二个探头直径的距离处。
[单选题]直探头垂直扫查“矩形锻件”时,工件底面回波迅速降低或消失的原因是()。A .底波被较大的面积性缺陷反射B .底波被较小的单个球状缺陷反射C .底波的能量被转换为电能而吸收D .以上都可能
[填空题] 直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈()。
[判断题] 对饼形锻件,采用直探头作径向探测是最佳的探伤方法。()A . 正确B . 错误
[单选题]斜角探伤时,焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来,其原因是()A . 近场效应B . 受分辨力影响C . 盲区D . 受反射波影响
[单选题]方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是():A.平行且靠近探测面B.与声束方向平