A . 正确
B . 错误
[判断题] 离子注入中静电扫描的主要缺点是离子束不能垂直轰击硅片,会导致光刻材料的阴影效应,阻碍离子束的注入。A . 正确B . 错误
[问答题] 离子注入后为什么要进行退火?
[判断题] 离子注入会将原子撞击出晶格结构而损伤硅片晶格,高温退火过程能使硅片中的损伤部分或绝大部分得到消除,掺入的杂质也能得到一定比例的电激活。A . 正确B . 错误
[问答题] 离子注入后为什么要退火?
[判断题] 在集成电路制造工艺步骤中,光刻与刻蚀能把掩膜版上的图形转移到硅片上来。A . 正确B . 错误
[单选题]离子注入层的深度主要取决于离子注入的()。A . 能量B . 剂量
[填空题] 半导体中的离子注入掺杂是把掺杂剂()加速到的需要的(),直接注入到半导体晶片中,并经适当温度的()。
[判断题] 离子注入中高能量意味着注入硅片更深处,低能量则用于超浅结注入。A . 正确B . 错误
[单选题]离子注入层的杂质浓度主要取决于离子注入的()。A . 能量B . 剂量