• 半导体材料题库

一定温度,杂质在晶体中具有最大平衡浓度,这一平衡浓度就称为什么?

[问答题] 一定温度,杂质在晶体中具有最大平衡浓度,这一平衡浓度就称为什么?

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  • 如果半导体中存在多种杂质,在通常情况下,可以认为基本上属于杂质饱和电离范围,其电

    [单选题]如果半导体中存在多种杂质,在通常情况下,可以认为基本上属于杂质饱和电离范围,其电阻率与杂质浓度的关系可近似表示为().A . 1/(NA-ND.eupB . 1/(NA-ND.eC.up/(NA-ND.eC . 1/(NA+ND.eup

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  • 短二极管

    [名词解释] 短二极管

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  • 一下哪一种属于金刚石结构().

    [单选题]一下哪一种属于金刚石结构().A . SiB . CuC . FeD . Al

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  • 注入离子在耙内的能量损失的过程?

    [问答题] 注入离子在耙内的能量损失的过程?

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  • 什么是外延层?为什么在硅片上使用外延层?

    [问答题] 什么是外延层?为什么在硅片上使用外延层?

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  • 扩散电阻

    [名词解释] 扩散电阻

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  • 固相晶化是指非晶硅薄膜在一定的保护气中,在()摄氏度以上进行常规热处理。

    [单选题]固相晶化是指非晶硅薄膜在一定的保护气中,在()摄氏度以上进行常规热处理。A .300B .400C .500D .600

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  • 非本征光电导

    [名词解释] 非本征光电导

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  • 半导体工业所用的硅单晶()是用CZ法生长的。

    [单选题]半导体工业所用的硅单晶()是用CZ法生长的。A . 70%B . 80%C . 90%D . 60%

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  • 产生电流

    [名词解释] 产生电流

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  • 超突变结

    [名词解释] 超突变结

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  • 场致发光

    [名词解释] 场致发光

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  • 用冷热探笔法测量P型半导体时,为什么冷端带正电,热端带负电?

    [问答题] 用冷热探笔法测量P型半导体时,为什么冷端带正电,热端带负电?

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  • 当晶体生长的较快,内坩埚中杂质量变少,晶体的电阻率().

    [单选题]当晶体生长的较快,内坩埚中杂质量变少,晶体的电阻率().A . 上升B . 下降C . 不变D . 不确定

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  • 氧化物有哪两个生长阶段?

    [问答题] 氧化物有哪两个生长阶段?

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  • 下列属于单晶硅片的一般形状().

    [单选题]下列属于单晶硅片的一般形状().A . 方形B . 三角形C . 椭圆形D . 梯形

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  • 突变结近似

    [名词解释] 突变结近似

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  • 制备单晶硅薄膜方面的主要工艺方法是().

    [单选题]制备单晶硅薄膜方面的主要工艺方法是().A . 汽-固B . 液-固C . 固-固D . 汽-液

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  • 按制备时有无使用坩埚分为两类,有坩埚分为?无坩埚分为?

    [问答题] 按制备时有无使用坩埚分为两类,有坩埚分为?无坩埚分为?

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  • 通过()改变驱动力场,借以控制生长系统中的成核率,这是晶体生长工艺中经常使用的方

    [单选题]通过()改变驱动力场,借以控制生长系统中的成核率,这是晶体生长工艺中经常使用的方法。A .温度场B .磁场C .重力场D .电场

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  • 反偏

    [名词解释] 反偏

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  • 反型异质结

    [名词解释] 反型异质结

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  • 在晶体凝固过程中,存在温度梯度的是().

    [单选题]在晶体凝固过程中,存在温度梯度的是().A . 上部和边缘部分B . 中部和边缘部分C . 上部和底部D . 底部和边缘部分

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  • 下列与硼氧复合体缺陷无关的是()。

    [单选题]下列与硼氧复合体缺陷无关的是()。A .氧B .硼C .温度D .湿度

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  • 测量硅中氧浓度常用的方法是().

    [单选题]测量硅中氧浓度常用的方法是().A . 带电粒子活化法B . 熔化分析法C . 离子质谱法D . 红外光谱分析法

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  • 什么是杂质分凝效应和分凝系数?

    [问答题] 什么是杂质分凝效应和分凝系数?

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  • 尽量提高晶转可以改善晶体中杂质分布的径向均匀性,如果晶转过高,会导致固液界面的形

    [单选题]尽量提高晶转可以改善晶体中杂质分布的径向均匀性,如果晶转过高,会导致固液界面的形状()。A .形状太凹B .形状太凸C .过于平整D .无变化

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  • 自掺杂效应与互扩散效应

    [问答题] 自掺杂效应与互扩散效应

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  • 下列不属于非晶硅优点的是().

    [单选题]下列不属于非晶硅优点的是().A . 制备方法简单B . 工艺成本低C . 制备温度高D . 可大面积制备

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