[判断题] CD是指硅片上的最小特征尺寸。A . 正确B . 错误
[判断题] 高阻衬底材料上生长低阻外延层的工艺称为正向外延。A . 正确B . 错误
[判断题] 与干法刻蚀相比,湿法腐蚀的好处在于对下层材料具有高的选择比,对器件不会带来等离子体损伤,并且设备简单。A . 正确B . 错误
[判断题] 高密度等离子体刻蚀机是为亚0.25微米图形尺寸而开发的最重要的干法刻蚀系统。A . 正确B . 错误
[判断题] 刻蚀的高选择比意味着只刻除想要刻去的那一层材料。A . 正确B . 错误
[问答题] 在半导体制造技术中,高k介质和低k介质各自应用在什么地方,为什么?
[判断题] 接触是由导电材料如铝、多晶硅或铜制成的连线将电信号传输到芯片的不同部分。A . 正确B . 错误
[填空题] 根据氧化剂的不同,热氧化可分为()、()和()。
[判断题] 离子注入的缺点之一是注入设备的复杂性。A . 正确B . 错误
[问答题] 为什么栅介质层的厚度减少有一个大致的极限?为什么现在需要高K值(介电常数)的栅介质?低K介质用在什么地方?为什么?
[问答题] 片式瓷介电容器主要有哪几种类型?各有什么主要特点?
[填空题] 选择性氧化常见的有()和(),其英语缩略语分别为LOCOS和()。
[填空题] 扩散是物质的一个基本性质,分为三种形态()扩散、()扩散和()扩散。
[问答题] 光刻工艺的主要流程有哪几步?什么是光刻工艺的分辨率?从物理角度看,限制分辨率的因素是什么?最常用的曝光光源是什么?
[问答题] 比较各种芯片互联方法的优缺点?
[问答题] 片式钽电解电容和铝电解电容有什么主要特点和主要差别?
[填空题] 在半导体制造业中,最早的互连金属是(),在硅片制造业中最普通的互连金属是(),即将取代它的金属材料是()。
[判断题] CMP带来的一个显著的质量问题是表面微擦痕。小而难以发现的微擦痕导致淀积的金属中存在隐藏区,可能引起同一层金属之间的断路。A . 正确B . 错误
[判断题] 用于亚0.25μm工艺的选择性氧化的主要技术是浅槽隔离。A . 正确B . 错误
[判断题] 离子注入会将原子撞击出晶格结构而损伤硅片晶格,高温退火过程能使硅片中的损伤部分或绝大部分得到消除,掺入的杂质也能得到一定比例的电激活。A . 正确B . 错误
[问答题] 表面组装电阻器主要有哪几类?各有什么特点?
[判断题] 平滑是一种平坦化类型,它只能使台阶角度圆滑和侧壁倾斜,但高度没有显著变化。A . 正确B . 错误
[问答题] 阐述铜金属化面临的三大问题,如何解决这些问题?
[问答题] 堆叠封装的发展趋势?
[问答题] 倒装焊芯片凸点的分类、结构特点及制作方法?