[问答题] 为什么电化学腐蚀会产生电位差?它的原因是什么?
[单选题]下列铸造多晶硅的制备方法中,()没有坩埚的消耗,降低了成本,同时又可减少杂质污染长度。A . 布里曼法B . 热交换法C . 电磁铸锭法D . 浇铸法
[问答题] 一定温度,杂质在晶体中具有最大平衡浓度,这一平衡浓度就称为什么?
[问答题] 什么是外延层?为什么在硅片上使用外延层?
[单选题]固相晶化是指非晶硅薄膜在一定的保护气中,在()摄氏度以上进行常规热处理。A .300B .400C .500D .600
[问答题] 注入离子在耙内的能量损失的过程?
[单选题]下列属于单晶硅片的一般形状().A . 方形B . 三角形C . 椭圆形D . 梯形
[问答题] 用冷热探笔法测量P型半导体时,为什么冷端带正电,热端带负电?
[单选题]半导体工业所用的硅单晶()是用CZ法生长的。A . 70%B . 80%C . 90%D . 60%
[单选题]当晶体生长的较快,内坩埚中杂质量变少,晶体的电阻率().A . 上升B . 下降C . 不变D . 不确定
[问答题] 氧化物有哪两个生长阶段?
[单选题]下列与硼氧复合体缺陷无关的是()。A .氧B .硼C .温度D .湿度
[问答题] 按制备时有无使用坩埚分为两类,有坩埚分为?无坩埚分为?
[单选题]通过()改变驱动力场,借以控制生长系统中的成核率,这是晶体生长工艺中经常使用的方法。A .温度场B .磁场C .重力场D .电场
[单选题]在晶体凝固过程中,存在温度梯度的是().A . 上部和边缘部分B . 中部和边缘部分C . 上部和底部D . 底部和边缘部分
[单选题]测量硅中氧浓度常用的方法是().A . 带电粒子活化法B . 熔化分析法C . 离子质谱法D . 红外光谱分析法
[单选题]制备单晶硅薄膜方面的主要工艺方法是().A . 汽-固B . 液-固C . 固-固D . 汽-液