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插装元器件的结构特点及应用?

[问答题] 插装元器件的结构特点及应用?

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  • CD是指硅片上的最小特征尺寸。

    [判断题] CD是指硅片上的最小特征尺寸。A . 正确B . 错误

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  • 蒸发镀膜

    [名词解释] 蒸发镀膜

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  • 在半导体制造技术中,高k介质和低k介质各自应用在什么地方,为什么?

    [问答题] 在半导体制造技术中,高k介质和低k介质各自应用在什么地方,为什么?

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  • RTA(RTP)

    [名词解释] RTA(RTP)

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  • 表面组装电阻器主要有哪几类?各有什么特点?

    [问答题] 表面组装电阻器主要有哪几类?各有什么特点?

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  • 简述MCM的组装技术?

    [问答题] 简述MCM的组装技术?

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  • 淀积膜的过程有三个不同的阶段。第一步是(),第二步是(),第三步是()。

    [填空题] 淀积膜的过程有三个不同的阶段。第一步是(),第二步是(),第三步是()。

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  • 异质外延

    [名词解释] 异质外延

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  • 平滑是一种平坦化类型,它只能使台阶角度圆滑和侧壁倾斜,但高度没有显著变化。

    [判断题] 平滑是一种平坦化类型,它只能使台阶角度圆滑和侧壁倾斜,但高度没有显著变化。A . 正确B . 错误

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  • 集成电路的发展时代分为()、中规模集成电路MSI、()、超大规模集成电路VLSI

    [填空题] 集成电路的发展时代分为()、中规模集成电路MSI、()、超大规模集成电路VLSI、()。

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  • 什么是MOS晶体管的闩锁效应,其对晶体管有什么影响?

    [问答题] 什么是MOS晶体管的闩锁效应,其对晶体管有什么影响?

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  • 临界曝光量

    [名词解释] 临界曝光量

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  • 光刻工艺的主要流程有哪几步?什么是光刻工艺的分辨率?从物理角度看,限制分辨率的因

    [问答题] 光刻工艺的主要流程有哪几步?什么是光刻工艺的分辨率?从物理角度看,限制分辨率的因素是什么?最常用的曝光光源是什么?

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  • 片式钽电解电容和铝电解电容有什么主要特点和主要差别?

    [问答题] 片式钽电解电容和铝电解电容有什么主要特点和主要差别?

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  • 用于亚0.25μm工艺的选择性氧化的主要技术是浅槽隔离。

    [判断题] 用于亚0.25μm工艺的选择性氧化的主要技术是浅槽隔离。A . 正确B . 错误

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  • 硅中固态杂质的热扩散需要三个步骤()、()和()。

    [填空题] 硅中固态杂质的热扩散需要三个步骤()、()和()。

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  • 什么是MOS晶体管的有源寄生效应?

    [问答题] 什么是MOS晶体管的有源寄生效应?

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  • 离子注入会将原子撞击出晶格结构而损伤硅片晶格,高温退火过程能使硅片中的损伤部分或

    [判断题] 离子注入会将原子撞击出晶格结构而损伤硅片晶格,高温退火过程能使硅片中的损伤部分或绝大部分得到消除,掺入的杂质也能得到一定比例的电激活。A . 正确B . 错误

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  • 桥键氧

    [名词解释] 桥键氧

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  • 高密度等离子体刻蚀机是为亚0.25微米图形尺寸而开发的最重要的干法刻蚀系统。

    [判断题] 高密度等离子体刻蚀机是为亚0.25微米图形尺寸而开发的最重要的干法刻蚀系统。A . 正确B . 错误

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  • CMP带来的一个显著的质量问题是表面微擦痕。小而难以发现的微擦痕导致淀积的金属中

    [判断题] CMP带来的一个显著的质量问题是表面微擦痕。小而难以发现的微擦痕导致淀积的金属中存在隐藏区,可能引起同一层金属之间的断路。A . 正确B . 错误

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  • 离子注入的缺点之一是注入设备的复杂性。

    [判断题] 离子注入的缺点之一是注入设备的复杂性。A . 正确B . 错误

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  • 堆叠封装的发展趋势?

    [问答题] 堆叠封装的发展趋势?

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  • 以p阱CMOS工艺为基础的BiCMOS的有哪些不足?

    [问答题] 以p阱CMOS工艺为基础的BiCMOS的有哪些不足?

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  • SOI

    [名词解释] SOI

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  • 扩散是物质的一个基本性质,分为三种形态()扩散、()扩散和()扩散。

    [填空题] 扩散是物质的一个基本性质,分为三种形态()扩散、()扩散和()扩散。

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  • 按照半导体集成电路的集成度来分,分为哪些类型,请同时写出它们对应的英文缩写。

    [问答题] 按照半导体集成电路的集成度来分,分为哪些类型,请同时写出它们对应的英文缩写。

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  • 外延片

    [名词解释] 外延片

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  • 根据氧化剂的不同,热氧化可分为()、()和()。

    [填空题] 根据氧化剂的不同,热氧化可分为()、()和()。

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